Keithley KTH 2470 SourceMeter-instrument

Översikt

Keithley KTH 2470 SourceMeter-instrumentet är en nästa generations källa-mät-enhet (SMU) som kombinerar precisionsmätningskapacitet upp till 1100V, 1A, 20W med ett intuitivt kapacitivt pekskärmsgränssnitt. Optimerad för karakterisering och testning av högspännings-, låg-läckage-enheter som siliciumkarbid (SiC), galliumnitrid (GaN), effekt-MOSFET och effektmoduler, 2470 utnyttjar decennium av Keithley-expertis för att leverera både precision och användarvänlighet i laboratoriums- och testrumsomgivningar.

Huvudfunktioner

• 0,012% grundläggande mätnoggrannhet med 6½-siffrig upplösning
• 1100V / 1A DC maximal kapacitet med 10 fA mätupplösning
• Fem-tums färg kapacitiv pekskärm med ikonbaserad menystuktur
• Fyrkvadrant källa och absorbningsdrift
• Flera programmeringsmodi: TSP-skriptning och 2450 SCPI-kompatibilitet
• Inbyggd kontextkänslig hjälp som reducerar installationssteg med 50%
• Främre panelbananuttagningar och bakpanel triaxiala anslutningar
• Omfattande anslutning: GPIB, USB 2.0, LXI/Ethernet, D-sub 9-pin digital I/O

Program

• Karakterisering av siliciumkarbid (SiC) och galliumnitrid (GaN) halvledareenheter
• Effekt-MOSFET och överspänningsskyddsenhetstestning
• Kretsskyddsenehet och effektmodulelutvärdering
• Batteri- och materialtestning med högspännings-, låg-läckagebehov
• I-V karakterisering och enhetparametrisk testning

Inkluderade tillbehör

• Högpresterande testledningar
• USB typ B till typ A-kabel
• CS-1616-3 säkerhetslåsmatinganslutare
• CA-180-3A TSP-Link/Ethernetkabel
• Snabbstartsguide och nedladdningsbar dokumentation