Siglent SDS6204L Digitalt lagringoscilloskop

Översikt

Siglent SDS6204L är ett 4-kanals 2GHz digitalt lagringoscilloskop med låg profil utformat för utrymmeskrävande laboratorier och fältapplikationer. Som del av SDS6000L-serien ger det exceptionell signalsamlings- och analyskapacitet i en kompakt formfaktor, vilket gör det idealiskt för arbetsbordstest, felsökning och portabla mätapplikationer.

Med 5 GSa/s samplingsfrekvens (10 GSa/s ESR), 500 Mpts inspelningslängd och vågformssamlingshastigheter på upp till 170 000 vågform per sekund i normalt läge (750 000 wfm/s i sekvenseringsläge) ger detta oscilloskop den prestanda som behövs för detaljerad signalanalys och komplexa mätuppgifter.

Huvudfunktioner

• 4 analoga kanaler plus 1 extern utlösningsingång med utbyggbar arkitektur för flererenhets-system
• 2 GHz bandbredd med 5 GSa/s (10 GSa/s ESR) samplingsfrekvens per kanal och lågt bakgrundsbrus
• 0,5 mV/div till 10 V/div vertikal känslighet för exakta mätningar
• SPO-teknik med 256-nivåintensitetsgradering och färgtemperaturvisningslägen
• Intelligent utlösning: Edge, Slope, Pulse, Window, Runt, Interval, Dropout, Pattern, Qualified, Nth edge, Setup/Hold, Delay och Video-utlösning
• Seriell bussutlösning och avkodning för I2C, SPI, UART, CAN, LIN, CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT och Manchester-protokoll
• Segmenterad insamling (sekvenseringsläge) för insamling av flera utlösarhändelser med minimal dödtid
• Historikvågformsregistrering upp till 80 000 bildrutor med avancerade analysfunktioner
• 50+ automatiska mätningar med histogram-, spår-, trend- och gatingstatistik
• 4 Math-spår med 8 Mpts FFT, formelredigerare och utökade matematiska operationer
• 25 MHz godtycklig vågformsgenerator med flera fördefinierade vågformer
• Flera gränssnitt: USB-värd/enhet (USBTMC), 1000M LAN (VXI-11/Telnet/Socket), micro SD-kort, HDMI och 10 MHz I/O

Tillämpningar

• Felsökning av inbäddade system och protokollanalys
• Karakterisering av digitala och analoga kretsar
• Analys av signalintegritet och tidsmarginal
• Synkronisering av flera enheter för storskaliga mätsystem
• Utbildnings- och forskningsapplikationer inom elektronik
• Portabel fältreparation och underhåll